X線回折・散乱技術　上

Ｘ線回折・散乱技術は物質の原子レベルの構造を探るのに最も一般的かつ有効な手段である．本書ではその多様な技法に対応し，データを正しく解析するために理解しておくべき基本的事項や解析理論を詳細に解説している．

著者

菊田　惺志

出版社

東京大学出版会

発売日

1992-06-01

価格

3,200円（税込・書誌情報提供：openBD）

ISBN

9784130630351

ページ数

256ページ

発売済み